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    子元器件老化测试,蒸气老化试验箱

    型 号

    产品时间2021-12-27

    所属分类蒸汽式老化试验箱

    报价

    产品描述:湖北高天蒸汽老化试验箱,蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。
    产品概述

    子元器件老化测试,蒸气老化试验箱

            湖北高天蒸汽老化试验箱,蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。

    蒸汽老化试验箱标准型号:

    产品型号:GT-ZQ-34

    内部尺寸:50X40X17 CM  (W*H*D)

    外部尺寸:60X50X42 CM  (W*H*D)

    温度范围:Upto97

    控制器:PID微脑控制

    加热方式:PID+SSR

    升温时间:约45分钟

    计时器:9999

    压:220V

    (KW)2

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