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子元器件老化测试,蒸气老化试验箱

型 号

产品时间2024-03-20

所属分类蒸汽式老化试验箱

报价

产品描述:湖北高天蒸汽老化试验箱,蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。
产品概述

子元器件老化测试,蒸气老化试验箱

        湖北高天蒸汽老化试验箱,蒸汽老化试验箱适用于子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片阻容、零组件产业、子零组件金属等材料进行老化加速寿命试验。

蒸汽老化试验箱标准型号:

产品型号:GT-ZQ-34

内部尺寸:50X40X17 CM  (W*H*D)

外部尺寸:60X50X42 CM  (W*H*D)

温度范围:Upto97

控制器:PID微脑控制

加热方式:PID+SSR

升温时间:约45分钟

计时器:9999

压:220V

(KW)2

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