提篮款式冷热冲击试验箱

  提篮款式冷热冲击试验箱又称两箱冷热冲击试验箱， 即可做高低温冲击试验 也可以单独高温或低温试验。适用于集成电路、印刷线路电路板、芯片、半导体元器件、电子元器件、光电通讯、高分子材料等产品等模拟试品在大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器的安全可靠性试验和产品。

一、产品特点：

　1、两箱设备区分为:高温区、低温区两部分,测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,测试产品为静态式；

　2、采用触控式图控操作界面，操作容易；

　3、冲击方式应用风路切换方式将温度道入测试区,做冷热冲击测试；

　4、高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999h, 最大循环周期可达9999次；

　5、系统可作自动循环引|擎或手动选择性冲击可设定二区或三区冲击及冷重热冲启始；

　6、冷却采用二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。淡可以试验冲击常温。

二、主要配置：

　1、内箱采用SUS#304不锈钢板，外箱采用不锈钢拉丝板，增加外观质感和洁净度，造型美观大方；

　2、箱体保温层采用高密度硅酸铝棉填充.保温厚度为100mm。

　3、箱体配备直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用，孔径及孔数可以依客户要求制作；

　4、机器底部采用高品质可固定式PU活动脚轮，方便移动；

　5、采用7寸彩色触控屏控制器，程式编辑容易，适用于各种温度交变试验条件，具有RS-232通讯界面及软件，可在电脑上执行各种功能；

　6、可独立设立高温、低温及冷热冲击三种不同条件，具备高低温试验机的功能；

　7、可在预约开机时间控制中自动提前预热、预冷待机，并可选择起始位置，由高温或低温开始循环或冲击，具备设定循环次数及自动除霜等功能；

　8、具备全自动，高精密系统回路，任一机件动作，由P.L.C锁定处理，温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制；

　9、出风口与回风口由传感器控制，风向栅门机构切换时间在10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间在5分钟内完成；

　10、运转中如发生异常状况，荧幕上即刻自动显示故障原因，并在发现输入电力不稳定时，紧急停机；

　11、冷冻系统采用法国泰康或美国谷轮牌压缩机，并使用环保型制冷剂。采用二元复叠制冷，以增加设备使用寿命。

三、技术规格：

　1、控制器：7寸LCD液晶显示触摸屏控制器；

　2、工作槽温度范围：G：-45~150℃，Z：-55~150℃，D：-65~150℃；

　3、温度恢复时间：5分钟以内；

　4、高度槽温度：60℃ - 200℃；

　5、低温槽温度：（A：-65），（B：-70），（D：-80）~-10℃；

　6、高低温曝露时间：30分钟；

　7、内箱材质：雾面不锈钢SUS304；

　8、外箱材质：雾面线条处理不锈钢SUS304；

　9、压缩机：法国泰康/德国比泽尔全密式压缩机；

　10、电源：AC380V±10%50HZ 三相四线+保护地线。

四、提篮款式冷热冲击试验箱满足以下标准：

　1、GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件；

　2、GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温；

　3、GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温；

　4、GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则；

　5、GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验；

　6、GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验；

　7、GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验；

　8、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验。